恒溫恒濕試驗箱溫度達(dá)不到設(shè)定值，可能是設(shè)備自身故障、操作不當(dāng)或環(huán)境因素導(dǎo)致，具體原因可從以下幾類排查：
加熱系統(tǒng)問題加熱管損壞：若低溫能達(dá)到但高溫達(dá)不到，可能是加熱管燒斷或接觸不良，需用萬用表檢測加熱管電阻是否正常。加熱繼電器故障：繼電器觸點粘連或失靈，導(dǎo)致加熱電路無法導(dǎo)通，無法正常加熱。
制冷系統(tǒng)問題制冷劑泄漏：制冷量不足，表現(xiàn)為低溫?zé)o法達(dá)到（如設(shè)定 - 20℃，實際只能降到 - 10℃），需檢測管道密封性并補(bǔ)充制冷劑。壓縮機(jī)故障：壓縮機(jī)無法啟動或效率下降，可能是電容損壞、繞組燒毀，或長期高負(fù)荷運行導(dǎo)致老化。冷凝器 / 蒸發(fā)器臟堵：散熱片積灰、結(jié)霜過厚，影響換熱效率，導(dǎo)致制冷能力下降（尤其低溫環(huán)境下易結(jié)霜，需定期除霜）。
溫度傳感器故障傳感器（如鉑電阻、熱電偶）老化或漂移，導(dǎo)致檢測值與實際箱內(nèi)溫度偏差，設(shè)備誤判 “已達(dá)到設(shè)定值" 而停止工作。傳感器位置不當(dāng)：若傳感器靠近加熱 / 制冷部件，可能檢測到局部溫度而非箱內(nèi)平均溫度，造成誤控。
控制器參數(shù)錯誤PID 參數(shù)設(shè)置不合理：溫度控制的比例、積分、微分參數(shù)失調(diào)，導(dǎo)致系統(tǒng)響應(yīng)慢、無法穩(wěn)定達(dá)到目標(biāo)值（需重新校準(zhǔn)參數(shù)）?？刂破鞅旧砉收希撼绦虺鲥e或硬件損壞，無法正常發(fā)出加熱 / 制冷指令。
負(fù)載過大箱內(nèi)放置的測試樣品過多、體積過大，或樣品本身散熱 / 吸熱能力強(qiáng)（如金屬件），導(dǎo)致設(shè)備無法在短時間內(nèi)平衡溫度。樣品堵塞風(fēng)道：影響箱內(nèi)氣流循環(huán)，溫度分布不均，局部無法達(dá)到設(shè)定值。
密封性能下降箱門密封條老化、變形或破損，導(dǎo)致冷氣 / 熱氣泄漏，外界環(huán)境溫度影響箱內(nèi)溫控（尤其低溫或高溫測試時更明顯）。觀察窗玻璃密封不良，同樣會造成能量流失。
環(huán)境溫度不適設(shè)備放置環(huán)境溫度過高（如夏季無空調(diào)的車間），會導(dǎo)致制冷系統(tǒng)散熱困難，低溫?zé)o法達(dá)標(biāo)；環(huán)境溫度過低（如冬季無供暖的實驗室），可能影響加熱系統(tǒng)效率（尤其對小功率設(shè)備）。
電源或電壓問題供電電壓不穩(wěn)定、缺相，導(dǎo)致加熱管、壓縮機(jī)等部件無法滿負(fù)荷工作，影響溫控效果。
誤設(shè) “程序模式" 而非 “定值模式"，導(dǎo)致設(shè)備按分段程序運行，未進(jìn)入目標(biāo)溫度階段；
設(shè)定溫度超出設(shè)備量程（如設(shè)備最大低溫為 - 40℃，卻設(shè)定 - 50℃）；
未關(guān)閉箱門或箱門未鎖緊，導(dǎo)致溫度無法維持。
排查時可先從簡單因素入手（如檢查箱門密封、樣品負(fù)載、設(shè)置參數(shù)），再逐步檢測硬件（傳感器、加熱 / 制冷部件），必要時聯(lián)系廠家售后進(jìn)行專業(yè)檢修，避免因故障擴(kuò)大影響設(shè)備壽命。
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